Article dans une revue
2019
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- Oriol Aviño Salvado, Besar Asllani, Cyril Buttay, Christophe Raynaud, Hervé Morel. Extraction of the 4H-SiC/SiO₂ Barrier Height Over Temperature. IEEE Transactions on Electron Devices, 2019, 67 (1), pp.63 - 68. ⟨10.1109/TED.2019.2955181⟩. ⟨hal-02418097⟩
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2018
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- Oriol Aviño Salvado, C. Cheng, Cyril Buttay, Hervé Morel, D Labrousse, et al.. SiC MOSFETs robustness for diode-less applications. EPE Journal - European Power Electronics and Drives, 2018, pp.1 - 8. ⟨10.1080/09398368.2018.1456836⟩. ⟨hal-01844980⟩
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- Oriol Aviño Salvado, Hervé Morel, Cyril Buttay, Denis Labrousse, Stéphane Lefebvre. Threshold voltage instability in SiC MOSFETs as a consequence of current conduction in their body diode. Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.636-640. ⟨10.1016/j.microrel.2018.06.033⟩. ⟨hal-01895791⟩
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2017
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- Wissam Sabbah, Faical Arabi, Oriol Aviño Salvado, Cyril Buttay, Loic Théolier, et al.. Lifetime of power electronics interconnections in accelerated test conditions: High temperature storage and thermal cycling. Microelectronics Reliability, 2017, ⟨10.1016/j.microrel.2017.06.091⟩. ⟨hal-01562549⟩
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- Wissam Sabbah, Pierre Bondue, Oriol Aviño Salvado, Cyril Buttay, Héìène Frémont, et al.. High temperature ageing of microelectronics assemblies with SAC solder joints. Microelectronics Reliability, 2017, ⟨10.1016/j.microrel.2017.06.065⟩. ⟨hal-01564755⟩
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- Oriol Aviño Salvado, Wissam Sabbah, Cyril Buttay, Hervé Morel, Pascal Bevilacqua. Evaluation of printed-circuit boards materials for high temperature operation. Journal of Microelectronics and Electronic Packaging, 2017, 14 (4), ⟨10.4071/imaps.516313⟩. ⟨hal-01674483⟩
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2014
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- Fabien Sixdenier, Julien Morand, Oriol Aviño Salvado, Dominique Bergogne. Statistical Study of Nanocrystalline Alloy Cut Cores From Two Different Manufacturers. IEEE Transactions on Magnetics, 2014, 50 (4), pp.2003604. ⟨10.1109/TMAG.2013.2285274⟩. ⟨hal-00988611⟩
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Communication dans un congrès
2019
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- Cyril Buttay, Christian Martin, Charles Joubert, Hervé Morel, Bruno Allard, et al.. Benefits of GaN transistors and embedding in PCB laminates. SIA Power Train & Electronics, Jun 2019, Paris, France. ⟨hal-02291496⟩
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- Pierre Demumieux, Oriol Avino-Salvado, Cyril Buttay, Christian Martin, Fabien Sixdenier, et al.. Design of a Low-Capacitance Planar Transformer for a 4 kW/500 kHz DAB Converter. APEC, Mar 2019, Anaheim, Californie, United States. pp.18720757, ⟨10.1109/APEC.2019.8722279⟩. ⟨hal-02076183⟩
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- Besar Asllani, Alberto Castellazzi, Oriol Aviño Salvado, Asad Fayyaz, Hervé Morel, et al.. V TH -Hysteresis and Interface States Characterisation in SiC Power MOSFETs with Planar and Trench Gate. IRPS, Mar 2019, Monterey, CA, United States. ⟨10.1109/IRPS.2019.8720612⟩. ⟨hal-02099781⟩
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2017
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- Oriol Aviño Salvado, Wissam Sabbah, Cyril Buttay, Hervé Morel, Pascal Bevilacqua. Evaluation of printed-circuit boards materials for high temperature operation. HiTEN, IMAPS, Jul 2017, Cambridge, United Kingdom. ⟨hal-01565131⟩
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- Oriol Aviño Salvado, Hervé Morel, Cyril Buttay. Étude de la robustesse de l’oxyde de grille pour des applications aéronautiques. JCGE, May 2017, Arras, France. pp.146345. ⟨hal-01534712⟩
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2016
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- Oriol Aviño Salvado, Cheng Chen, Cyril Buttay, Hervé Morel, Denis Labrousse, et al.. Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applications diode-less. Symposium de Génie Electrique (SGE'16), Jun 2016, Grenoble, France. ⟨hal-01361711⟩
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2015
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- Cyril Buttay, Marwan Ali, Oriol Aviño Salvado, Hervé Morel, Bruno Allard. High temperature operation of SiC transistors. Advanced Technology Workshop (ATW) on Thermal Management, IMAPS, Sep 2015, Los Gatos, CA, United States. ⟨hal-01373030⟩
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2013
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- Fabien Sixdenier, Julien Morand, Oriol Aviño Salvado, Dominique Bergogne. Statistical study of Nanocristalline alloy cut-cores from two different manufacturers. 21st Soft Magnetic Materials Conference, Sep 2013, Budapest, Hungary. ⟨hal-01381386⟩
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Thèse
2018
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- Oriol Aviño Salvado. Contribution to the study of the SiC MOSFETs gate oxide. Electronics. Université de Lyon, 2018. English. ⟨NNT : 2018LYSEI110⟩. ⟨tel-02124585⟩
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